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Misura con metodo AMFM del modulo di Young di compositi dentali

Imaging

Le principali caratteristiche delle immagini SEM, oltre all’alta risoluzione (circa 20 nm con lo strumento utilizzato, fino a 5 nm con una sorgente a emissione di campo in esaboruro di lantanio), sono la buona profondità di campo, la grande dinamica di scansione e ingrandimenti (da un 30x inferiore ai piccoli stereomicroscopi fino a 10˙000x o anche 100˙000x, quasi pari ai microscopi AFM), e soprattutto la velocità di scansione e acquisizione, molto superiore a quella di un AFM [54].

Il segnale più comunemente utilizzato per formare immagini è quello degli elettroni secondari. Le immagini realizzate con elettroni secondari sembrano immagini di microscopia ottica in luce riflessa, e quindi dipendono dalla morfologia superficiale. Gli elettroni retrodiffusi invece danno immagini composizionali, in quanto l’intensità del segnale aumenta al crescere del numero atomico Z degli atomi del provino. Questi segnali vengono raccolti da rivelatori distinti, selettivi in base all’energia e al cono di emissione degli elettroni. L'immagine risultante è una mappa di distribuzione dell'intensità del segnale emesso dalla zona del provino irraggiata.
Ad ogni nuova sessione di lavoro, prima di raccogliere le immagini occorre eseguire la messa a punto del fascio elettronico. Questa operazione si effettua solitamente non sul provino d’interesse ma sul carrello di alluminio, in modo da non contaminare il provino per le immagini successive. Infatti il fascio di elettroni ad alta energia (dell’ordine del keV) causa, nella sua zona d’incidenza sul provino, un accumulo delle impurità carboniose presenti nella camera a vuoto a causa di composti organici residui (solventi, oli). Inoltre un provino isolante, che effettua il drenaggio degli elettroni primari solo grazie alla sottile ricopertura di materiale conduttivo, in caso di esposizione prolungata al fascio elettronico può dare luogo ad accumulo di carica elettrostatica, che disturba nuovi elettroni e quindi altera le immagini creando aloni chiari.

Una volta scelta la regione di messa a punto del fascio, normalmente in corrispondenza di una piccola particella quanto più possibile rotonda di metallo o altro materiale, si utilizza la funzione Wobbler, che cambia automaticamente il fuoco sopra e sotto il piano focale
impostato. Questo consente di valutare l’allineamento del fascio lungo l’asse ottico (se l’immagine della particella si sposta) e il suo astigmatismo (se si deforma). Tutti questi parametri possono essere regolati con appositi controlli software (Fig.4.15).

Questo brano è tratto dalla tesi:

Misura con metodo AMFM del modulo di Young di compositi dentali

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Informazioni tesi

  Autore: Laura Grattarola
  Tipo: Tesi di Laurea Magistrale
  Anno: 2014-15
  Università: Università degli studi di Genova
  Facoltà: Ingegneria
  Corso: Progettazione e produzione
  Relatore: Carla Gambaro
  Lingua: Italiano
  Num. pagine: 154

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Parole chiave

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compositi dentali
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modulo di elasticità
microscopio a scansione di elettroni

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