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Nuove tecniche di radiologia diagnostica: caratterizzazione per immagini di un sistema tomografico multi-energy con fasci quasi monocromatici

Estratto della Tesi di Stefano Cappelli

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1.3 RIVELATORI A SEMICONDUTTORE 15 carica sarebbe eccessiva e il fenomeno di trapping diventerebbe predominante con una perdita notevole di informazione. Ma anche uno spessore troppo sottile creerebbe un abbassamento dell’efficienza nelle alte energie, soprattutto per la rivelazione di radiazione X. Un altro serio problema riguarda la fuga di raggi X secondari, come ad esempio i raggi di fluorescenza K-X relativi al Cadmio ed al Tellurio emessi dal cristallo stesso. Questo indesiderato effetto è dovuto all’effetto fotoelettrico che risulta dominante per elementi con alto numero atomico, mentre per quanto riguarda la fuga di raggi x diffusi per effetto Compton si può ritenere che questi apportino un contributo trascurabile essendo invece questo fenomeno scarsamente probabile per elevati numeri atomici. Riassumendo, questo tipo di detector offre la possibilità di ottenere spettri di emissione X e senza l’impiego di un impianto di refrigeramenro criogenico ma presenta delle problematiche da risolvere in sede di analisi dati, causate principalmente da fenomeni di trapping e di fuga di radiazione secondaria. 1.3.3 – SPETTRO PRODOTTO Un fotone incidente su un rivelatore può sperimentare fondamentalmente tre processi di interazione: assorbimento fotoelettrico, diffusione Compton e produzione di coppie. La distribuzione differenziale delle energie rilasciate da ogni fotone per ogni tipo di processo d’ interazione rappresenta lo spettro energetico della radiazione rivelata. [Knoll] Per un’analisi dettagliata dello spettro prodotto da un rivelatore per fotoconteggio occorre specificare se le dimensioni geometriche del materiale assorbitore siano minori o maggiori del libero cammino medio dei fotoni secondari originati in processi di diffusione Compton e di annichilazione elettrone-positrone per processi di produzione di coppie, in quanto in base a queste si ha una diversa risposta del rivelatore per differenti processi di assorbimento dell’energia. Nell’ assorbimento fotoelettrico il fotone scompare totalmente e un fotoelettrone emerge da un orbitale interno dell’atomo coinvolto nel processo. Questo è quindi un processo ideale se si vuole misurare l’energia della radiazione incidente sul rivelatore,
Estratto dalla tesi: Nuove tecniche di radiologia diagnostica: caratterizzazione per immagini di un sistema tomografico multi-energy con fasci quasi monocromatici

Estratto dalla tesi:

Nuove tecniche di radiologia diagnostica: caratterizzazione per immagini di un sistema tomografico multi-energy con fasci quasi monocromatici

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Informazioni tesi

  Autore: Stefano Cappelli
  Tipo: Laurea liv.I
  Anno: 2008-09
  Università: Università degli Studi di Bologna
  Facoltà: Scienze Matematiche, Fisiche e Naturali
  Corso: Scienze e tecnologie fisiche
  Relatore: Giuseppe Baldazzi
  Lingua: Italiano
  Num. pagine: 162

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