Progetto e realizzazione di un setup di misura basato su preamplificatore di carica per fotorivelatori in silicio Sipm

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1.3. I SEMICONDUTTORI 9 Quandounfasciodilucediintensit` aI 0 attraversaunostratodispessore` diunmezzo, unapartediessovieneassorbita(secondoimeccanismispiegati in precedenza) e una parte viene trasmessa con intensit` a I 1 . In particolare, vale la legge di Lambert-Beer: I 1 =I 0 ·e −α` (1.3) Dove: I 0 ` e l’intensit` a del flusso incidente. I 1 ` e l’intensit` a del flusso uscente. α ` e il coefficiente di assorbimento (che dipende fortemente dalla lunghezza d’onda). ` ` e lo spessore del materiale. 1.3 I semiconduttori I semiconduttori sono materiali con conducibilit` a intermedia tra quella di un buon conduttore e quella di un buon isolante. Essi presentano un comportamento anomalo della conducibilit` a in funzione della temperatura: la resistivit` a diminuisce all’ aumentare della temperatura anzich´ e aumentare come avviene nei conduttori. R =ρ· l S (1.4) Dove: R ` e la resistenza. ρ ` e la resistivit` a del materiale. l ` e la lunghezza. S ` e la sezione. La resistivit` a ` e data dalla seguente formula: ρ =ρ 0 ·(1+αΔt) (1.5) Nei conduttori ρ aumenta all’aumentare della temperatura, cio` e si ha α positivo. Nei semiconduttori ρ diminuisce all’aumentare della temperatura, cio` e si ha α negativo.

Anteprima della Tesi di Mirco Ravanelli

Anteprima della tesi: Progetto e realizzazione di un setup di misura basato su preamplificatore di carica per fotorivelatori in silicio Sipm, Pagina 8

Laurea liv.I

Facoltà: Ingegneria

Autore: Mirco Ravanelli Contatta »

Composta da 228 pagine.

 

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