Sviluppo e calibrazione di un sistema di spettroscopia fotoelettronica (XPS)

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1.3 L’eetto fotoelettrico vuoto e, quindi, al raggiungimento dell’esterno del solido. Per fuoriuscire dal materiale l’elettrone deve superare una barriera di poten- ziale di ampiezzaE LV E F =e , dovee e la funzione lavoro del materiale, come indicato in gura 1.4. La funzione lavoro e una grandezza caratteristica del materiale e dello stato chimico-sico della sua supercie. Dunque per un solido vale la relazione E K;max =h E B e (1.1) E importante notare che sia la funzione lavoro, come gi a indicato in prece- denza, sia l’energia di legame dell’elettrone nello stato iniziale sono entrambe riferite al livello di Fermi, che rappresenta il punto zero della scala. Quanto appena detto e un’assunzione, in quanto il vero punto zero della sca- la delle energie di legame sarebbe il livello di vuoto E LV ; tuttavia il livello di Fermi rappresenta un riferimento dell’energia utile quando il campione in esame e in contatto elettrico (e quindi in equilibrio termodinamico) con l’analizzatore. 1.3.1 Funzione lavoro dello spettrometro Figura 1.4: Diagramma a bande del campione e dello spettrometro all’equilibrio termidinamico. L’elettrone emesso ha energia cineticah E B e , ma per entrare nello spettrometro deve spendere un lavoro pari a = e( S ), cosicch e l’energia cinetica dal punto di vista dello spettrometro E A k vale h E B e S La relazione 1.1 richiede, in linea di principio, di conoscere la funzione lavoro e del campione. Tuttavia le energie cinetiche dei fotoelettroni so- 7

Anteprima della Tesi di Alfio Battiato

Anteprima della tesi: Sviluppo e calibrazione di un sistema di spettroscopia fotoelettronica (XPS), Pagina 8

Laurea liv.II (specialistica)

Facoltà: Scienze Matematiche, Fisiche e Naturali

Autore: Alfio Battiato Contatta »

Composta da 143 pagine.

 

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