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Analisi morfologica di difetti su carburo di silicio per applicazioni su dispositivi elettronici

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- Introduzione - 3 I test sul funzionamento di diodi costruiti sul materiale analizzato, infine, forniscono i dati mediante i quali viene discussa la possibile correlazione tra le imperfezioni della superficie e la qualità dei dispositivi (capitolo 6).

Anteprima della Tesi di Francesca Perissinotti

Anteprima della tesi: Analisi morfologica di difetti su carburo di silicio per applicazioni su dispositivi elettronici, Pagina 3

Tesi di Laurea

Facoltà: Scienze Matematiche, Fisiche e Naturali

Autore: Francesca Perissinotti Contatta »

Composta da 120 pagine.

 

Questa tesi ha raggiunto 1559 click dal 20/03/2004.

 

Consultata integralmente 4 volte.

Disponibile in PDF, la consultazione è esclusivamente in formato digitale.