Effetti del danneggiamento da radiazione ionizzante sulle caratteristiche elettriche e di rumore di transistori Cmos

Contatta l'autore »

Stefano Florian

• Autore della tesi: Effetti del danneggiamento da radiazione ionizzante sulle caratteristiche elettriche e di rumore di transistori Cmos ≫

Studi

• Laurea in Fisica
  conseguita presso Università degli Studi di Padova nell'anno 1998-99
  con una votazione di 110 su 110
  sostendendo i seguenti esami:

  Materia		Voto
  analisi matematica I		27
  fisica gemerale I		27
  geometria		18
  esperimentazioni di fisica I		30
  chimica generale ed inorganica		30
  meccanica razionale		25
  analisi matematica II		26
  esperimentazioni di fisica II		30
  fisica generale II		27
  metodi matematici della fisica		25
  struttura della materia		27
  esperimentazioni di fisica III		28
  elettronica I		30
  elettronica applicata		30
  istituzioni di fisica teorica		28
  istituzioni di fisica nucleare e subnucleare		30
  elettronica II		30
  laboratorio di elettronica		28

• Diploma di maturità conseguito presso il Liceo scientifico
  con votazione 60/60°

Altri titoli di studio

• licenza di teoria e solfe
  conseguito presso conservatorio di Vicenza nell'anno 1992

Lingue straniere

• Inglese parlato e scritto: discreto
• Tedesco parlato e scritto: discreto

Conoscenze informatiche

• Livello buono