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Aspetti statistici dell'errore di misura a due componenti

Gli errori di misurazione stocastici producono considerevoli effetti sulle proprietà statistiche, quindi è importante nella pratica industriale assicurare la precisione durante l'applicazione di una carta di controllo. Nel lavoro è proposto un nuovo modello a due componenti per l'errore analitico nel campo del controllo ambientale, applicabile a tutte le branchie industriali, e produce stime di massima verosimiglianza molto accurate.

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1CAPITOLO 1 EFFETTO DELL’IMPRECISIONE DI CALIBRATURA SULLA PERFORMANCE DELLA CARTA DI CONTROLLO SX  Questa sezione esamina l’effetto dell’errore di misurazione stocastico (imprecisione di calibratura) sulla performance delle carte di controllo SX  di tipo Shewhart. Viene mostrato che l’imprecisione nella calibratura può seriamente interessare la capacità della carta a segnalare in maniera rapida i disturbi di processo o, in maniera dipendente dal periodo in cui avviene l’errore, la probabilità di segnalazione errata di uno stato di fuori-controllo del processo. 1.1 INTRODUZIONE Nel processo statistico di controllo, l’enfasi maggiore viene posta sull’assicurare una buona capacità di calibratura prima di procedere ad applicare le carte di controllo. Quindi, nella pratica industriale viene riconosciuto che l’errore di misurazione che contamina i dati di qualità, potrebbe seriamente interessare la performance delle carte ed altri strumenti di processo statistico. Articoli di Mizuno (1961), Abraham (1977), Mittag (1993) e Mittag e Stemann (1993) analizzano l’effetto di dispostivi di misurazione imprecisi sulla variazione di processo. Kanazuka (1986) e Mittag (1995) studiano lo stesso problema rispetto a carte di controllo Shewhart utilizzate per controllare simultaneamente la posizione del processo e la sua diffusione. L’obiettivo che si propone, è quello di completare ed estendere i risultati dell’articolo di Mittag (1995) riferiti alla carta di controllo SX  . Considerando che questo tratta solo gli errori di misurazione che avvengono prima o durante la messa in opera di una carta di controllo SX  , viene preso in esame anche il

Laurea liv.II (specialistica)

Facoltà: Scienze Statistiche

Autore: Francesco Bianchi Contatta »

Composta da 103 pagine.

 

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Disponibile in PDF, la consultazione è esclusivamente in formato digitale.